Caracterización óptica y estructural de monocapas de silicio poroso por medio de reflectancia en la región visible y rayos X Danilo Roque Huanca Instituto de
Etiqueta: REVISTA ECIPERU 15 (2018) 68-72
Caracterización óptica y estructural de monocapas de silicio poroso por medio de reflectancia en la región visible y rayos X Danilo Roque Huanca Instituto de