Graduated in Physics from the Universidad Nacional de San Antonio Abad del Cusco (2001), MS in Electrical Engineering from the University of São Paulo (2007).
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REVISTA ECIPERU 15 (2018) 66-70
Caracterización óptica y estructural de monocapas de silicio poroso por medio de reflectancia en la región visible y rayos X Danilo Roque Huanca Instituto de